GB/T 2423.27-2006八EC 60068-2-39:1976 免費下載
前言
本 部分 是 GB/T 2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的一部分。本部分等同采用IEC 60068-2-39;1976
《基本環(huán)境試驗規程第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續綜合試驗》(英
文版)。
本 部 分 技術(shù)內容與IEC 60068-2-39:1976《基本環(huán)境試驗規程第2部分,試驗方法試驗
Z/AMD:寒冷、低氣壓和濕熱連續綜合試驗)(英文版)相同,編寫(xiě)格式與表達方式符合GB/T 1. 1
2000和GB/T 20000. 2-2001的有關(guān)規定。
為便 于使 用,本部分對于IEC 60068-2-39;1976作了下列編輯性修改:
a) 為 了GB/T 2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》各部分的名稱(chēng)協(xié)調一致,本部分未*采用IEC
600 68 -2- 39 ;1 976 的 中文譯名,而改為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗
Z/ AM D : 低 溫 /低 氣壓/濕熱連續綜合試驗》;
b) 刪 除了IEC 60068-2-39;1976的前言
本 部 分 發(fā)布實(shí)施后代替GB/T 2423.2 7-1981《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗Z/AMD:
低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》。
本 部 分 與GB/T 2423.2 7-1981相比主要變化如下:
a) 為 了GB/T 2423《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》各部分的名稱(chēng)協(xié)調一致,本部分名稱(chēng)改為《電工電子
產(chǎn) 品 環(huán) 境 試 驗 第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗》;
b) 第 1章“目的”和第2章“試驗的一般說(shuō)明”的文字敘述與原來(lái)有所不同。
本 部 分 由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì )提出。
本 部 分 由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會(huì )歸口。
本 部 分起 草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本 部 分 主要起草人:邱福來(lái)、張錚
本 部 分 所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
- G B/T 2423.2 7-1981。
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